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        1. 文章詳情

          LCR數字電橋技術問題

          日期:2022-06-11 20:42
          瀏覽次數:805
          摘要:
          一. LCR數字電橋技術問題
          1. 什么叫LCR數字電橋?
          答:是一個傳統習慣的說法,*早的LCR測試就是一個真正的電橋平衡測試方法,現在一直沿用至今。
          2.作為一個新用戶,怎樣選擇一款數字電橋?
           答: (1)首先是看儀器的測試準確度。
          (2)看儀器的測試頻率。
          (3)看儀器的測試電平。
          其他視客戶使用具體情況而定,或者可以根據客戶的實際情況向同惠公司技術咨詢。
          3頻率不同對元件測試有影響嗎?
          答:有,詳見同惠網站技術支持5.阻抗測量基礎一文中的測試信號頻率信號相關性。
          4.電壓不同對元件測試有影響嗎?
          答: 有,詳見同惠網站技術支持5. 阻抗測量基礎一文中的測試信號電平信號相關性。
          5.怎樣選擇測試電壓和頻率?
          答:(1)根據被測件的實際應用。
          (2).根據相關產品標準。
          (3).根據客戶自定要求。
          6.對于一個已知的“電容”,客戶該選用什么樣的測試條件?
          答(1)小于100pF電容用1MHZ頻率測量,中等容量如(1000pF-10uF)用1KHZ,10KHZ,100KHZ.國家標準測試中等電容的測試頻率標準是1KHZ。電解類如鋁電解,鉭電解等用100HZ或120HZ。
          (2)從電平的角度說大部分電容對電平不敏感,不同電平測試變化不大,但有些介電常數大的電容與電平非常敏感,應仔細選擇電平。
          9.什么是損耗D,品質因數Q?
          答: D、兩者互為倒數,其計算方法為被測器件的有功功率PR(電阻器耗能)與無功功率PC(電容器儲能)或PL(電感器儲能)的比值.對串聯和并聯等效電路使用下式計算:=Rs/|Xs|,D=|Xp|/Rp,D和Q的值與等效方式無關。
          10.怎樣選擇串聯和并聯測試參數?
          答: a、可以兩個不同的測試頻率下損耗因子的變化性來決定,若頻率升高而損耗增加,則應選用串聯等效電路若頻率升高而損耗減小,則應選用并聯等效電路。對于電感來說,情況正好與電容相反。實際中,器件的不可能與頻率完全成正比關系,其可能有并聯成分,也可能有串聯成分,應看何種成分占主導。b、根據元件的*終使用情況來判定。如用于信號耦合電容,則*好選擇串聯方式,旁路或并聯諧振則使用并聯等效電路。C.習慣上說低阻抗元件用串聯,從數值上說阻抗小于100歐姆一定用串聯,大于10千歐用并聯,(100歐姆-10千歐)根據實際情況選擇。
          11.什么叫等效串聯電阻Rs \并聯電阻Rp?
          答:任何一個被測器件都可以等效為一個串聯電路或并聯電路. 串聯電阻Rs為串聯等效電路中的電阻部分,Rs也叫ESR. 并聯電阻Rp為并聯等效電路中的電阻部分,Rp也叫EPR。
          12.怎樣選擇測試速度?
          答:一般來說,測試速度是以犧牲測試精度為代價的:速度越快,精度越差,讀數穩定性差,有效位數變少。如果要測試精度,一般選擇慢速,要考慮測試速度和測試精度就選擇中速。
          13.儀器為什么要進行清零?
          答:因為1.由于儀器本身的漂移,會疊加一些雜散成份,如接觸電阻.電感.并聯電容等,則不清零就會有誤差。
          2.短路清零對小阻抗器件更為有效,開路清零對高阻抗器件更有效。
          15.什么是負載校準,負載校準應注意哪些?
           答:負載校準是一種的上等的儀器校準方法,可以使儀器在高于儀器原有準確度的基礎上測量元件,主要用于下面兩種情況:1.當有更準確的元件并需對同規格元件進行更高準確度的測量。2.統一現場所有LCR數字電橋的測試數據。3.使用負載校準可以使儀器在更高精度下測試。
          16.掃頻和點頻清零有何區別?
          答: 1.掃頻一般針對實際測試頻率點比較多的被測元件,點頻清零一般針對只要一個頻點的被測元件.
          2.但是掃頻清零會費較長時間。
          17.測量的顯示范圍和精度范圍有何區別?
          答: 測量的顯示范圍一般大于精度范圍,具體精度計算可以參考同惠的相關技術資料。.
          18.輸出阻抗不同對測試結果有什么影響,為什么有的儀器有30Ω和100Ω的內阻選擇?
          答: 1.儀器輸出阻抗不同導致被測器件上信號不同,*終會導致顯示參數的不同.
          2.測試時信號其實是被測件與儀器內阻(輸出阻抗)串聯在一起,會對信號產生分壓作用。因此低阻抗測試實際加到器件上的電平小于設定電平。早先的電橋內阻是量程自動變化的,目前同惠LCR內阻一旦選定就不變化。30Ω兼容同惠較老電橋,100Ω能與Agilent的儀器匹配。
          20.為什么L或C設置了,還不能進行分選(還是判斷為不合格)?
          答:儀器分選必須主副參數的極限標準同時設置,如只滿足其中一個條件還是會判斷為不合格。
          21.儀器的P1\P2\P3有何具體意義?
          答: 儀器的P1\P2\P3用于儀器的上等,二級,三級品的分選. 一般上等品的百分比極限小于二級品極限, 二級品的百分比極限小于三級品極限。
          22.為什么同一個電感在不同廠家的LCR儀器上用相同測試條件,電感測試數據會有很大差別?
          答:因為:1.絕大多數電感都帶有鐵芯磁芯,而帶有鐵芯磁芯的電感對其施加的磁場非常敏感,磁場與測試信號電流成正比,因此相同電平若內阻不同,電流就會不一樣,則結果 有很大差別。這是客戶電感測試時遇到的普遍問題。
          2.判定儀器測試電感的一致性原則應該是施加與被測件上的電流要一致,這其中有一個特例,就是空心電感與磁場不敏感的。
          23.為什么有時器件會顯示-值?
          答:因為: 1.過度清零。
          2.儀器有限的準確度。
          25.儀器的自動和保持有什么實際作用?
          答: 儀器的自動一般用于未知大小的元件的測試.保持一般用于大小已經確定的元件 測試, 保持功能可以提高儀器的測試效率,保持也可以起到延長儀器內部繼電器的使用壽命。
          26.儀器的串行軟件有何功能?
          答: 儀器的串行軟件可以連接電腦等系統設備,實現統計分析或者自動測試。
          27.儀器可以測貼片元件嗎?
          答: 儀器配上專用SMD測試夾具就可以測貼片元件了。

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